測(cè)定硫酸銅晶體(CuSO₄·5H₂O)結(jié)晶水含量的實(shí)驗(yàn)步驟為：①研磨；②稱量空坩堝和裝有試樣的坩堝的質(zhì)量；③加熱；④冷卻；⑤稱量；⑥重復(fù)③—⑤的操作，直到連續(xù)兩次稱量的質(zhì)量差不超過(guò)0.1 g為止；⑦根據(jù)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)計(jì)算硫酸銅晶體中結(jié)晶水的含量。

請(qǐng)回答下列問(wèn)題：

(1)從以下儀器中選出本實(shí)驗(yàn)不需要使用的儀器(用字母填寫(xiě))________________。

A.托盤(pán)天平 B.研缽 C.試管夾 D.酒精燈 E.蒸發(fā)皿 F.玻璃棒 G.坩堝 H.干燥器 I.泥三角 J.石棉網(wǎng) K.三腳架 L.藥匙 M.坩堝鉗

(2)該實(shí)驗(yàn)中哪一步驟需要使用干燥器？使用干燥器的目的是什么？

答：________________________________________________________________。

(3)做此實(shí)驗(yàn)，至少應(yīng)進(jìn)行稱量操作________________次，至少加熱________________次。

(4)實(shí)驗(yàn)步驟⑥的目的是______________________________________。

(5)實(shí)驗(yàn)后得到以下數(shù)據(jù)：

①加熱前質(zhì)量：W₁(容器)，W₂(容器+晶體)；②加熱后質(zhì)量：W₃(容器+無(wú)水硫酸銅)。

請(qǐng)寫(xiě)出硫酸銅晶體中結(jié)晶水含量，用質(zhì)量分?jǐn)?shù)表示的計(jì)算式(含W₁、W₂、W₃)為：________________。

(6)若操作正確但實(shí)驗(yàn)測(cè)得的硫酸銅晶體中結(jié)晶水的含量偏低，其原因可能有________________。

A.被測(cè)樣品中含有加熱不揮發(fā)的雜質(zhì)

B.被測(cè)樣品中含有加熱易揮發(fā)的雜質(zhì)

C.實(shí)驗(yàn)前被測(cè)樣品已有部分失水

D.加熱前所用的坩堝未完全干燥

測(cè)定硫酸銅晶體（CuSO₄·5H₂O）結(jié)晶水含量的實(shí)驗(yàn)步驟為：①研磨；②稱量空坩堝和裝有試樣的坩堝的質(zhì)量；③加熱；④冷卻；⑤稱量；⑥重復(fù)③—⑤的操作，直到連續(xù)兩次稱量的質(zhì)量差不超過(guò)0.1 g為止；⑦根據(jù)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)計(jì)算硫酸銅晶體中結(jié)晶水的含量。

請(qǐng)回答下列問(wèn)題：

（1）從以下儀器中選出本實(shí)驗(yàn)不需要使用的儀器（用字母填寫(xiě)）_______________。

A.托盤(pán)天平 B.研缽 C.試管夾 D.酒精燈 E.蒸發(fā)皿 F.玻璃棒 G.坩堝 H.干燥器 I.泥三角 J.石棉網(wǎng) K.三腳架 L.藥匙 M.坩堝鉗

（2）該實(shí)驗(yàn)中哪一步驟需要使用干燥器？使用干燥器的目的是什么？

答：___________________________________。

（3）做此實(shí)驗(yàn)，至少應(yīng)進(jìn)行稱量操作_______________次，至少加熱_______________次。

（4）實(shí)驗(yàn)步驟⑥的目的是_____________________________________________。

（5）實(shí)驗(yàn)后得到以下數(shù)據(jù)：

①加熱前質(zhì)量：W₁（容器），W₂（容器+晶體）；②加熱后質(zhì)量：W₃（容器+無(wú)水硫酸銅）。

請(qǐng)寫(xiě)出硫酸銅晶體中結(jié)晶水含量，用質(zhì)量分?jǐn)?shù)表示的計(jì)算式（含W₁、W₂、W₃）為：_____________。

（6）若操作正確但實(shí)驗(yàn)測(cè)得的硫酸銅晶體中結(jié)晶水的含量偏低，其原因可能有____________。

A.被測(cè)樣品中含有加熱不揮發(fā)的雜質(zhì)

B.被測(cè)樣品中含有加熱易揮發(fā)的雜質(zhì)

C.實(shí)驗(yàn)前被測(cè)樣品已有部分失水

D.加熱前所用的坩堝未完全干燥